采用 InstaView? 技術(shù)的 AFG31000 系列為內(nèi)置波形發(fā)生應(yīng)用程序、具有已獲專利的實時波形監(jiān)測功能并采用智能用戶界面的首款高性能任意波函數(shù)發(fā)生器。

驗證連接 DUT 后輸出波形

已獲專利的 InstaView? 技術(shù)用在任意波函數(shù)發(fā)生器上可直接查看連接 DUT 后的實時波形，無需使用示波器或其他設(shè)備，節(jié)省測試時間并避免因阻抗不匹配導(dǎo)致的實驗錯誤。

一分鐘內(nèi)完成雙脈沖測試

AFG31000 是市場上第一款包括內(nèi)置雙脈沖測試軟件的函數(shù)發(fā)生器。現(xiàn)在，您可以在一分鐘內(nèi)直接在觸摸顯示屏上生成兩個具有可變脈沖寬度（從 20 ns 到 150 μs）的波形。無需使用外部 PC 應(yīng)用程序或手動編輯。

測量開關(guān)器件參數(shù)并評估 MOSFET 和 IGBT 等功率器件的動態(tài)性能。

高保真度信號與高級模式

打開包裝后，在連續(xù)模式下每通道可以生成高達 16 M 點的精確長波形。可變采集時鐘技術(shù)確保您不再丟失任何波形數(shù)據(jù)。產(chǎn)品功能可升級，您可以進一步提高測試水平并只需花費傳統(tǒng) AWG 十分之一的成本進行復(fù)雜波形的創(chuàng)建和編輯。

產(chǎn)品選配功能升級，您可以：

• 將內(nèi)存擴展為每通道 128 M 點（選件 MEM）

• 多達 25 項輸入和控制的序列/觸發(fā)/選通模式（選件 SEQ）用于：循環(huán)、等待、跳轉(zhuǎn)、轉(zhuǎn)至、外部觸發(fā)輸入、手動觸發(fā)、定時觸發(fā)和 SCPI 命令，以便創(chuàng)建時序靈活、復(fù)雜的長波形。

簡化任意波形創(chuàng)建

內(nèi)置的 ARB 編輯工具 ArbBuilder 包括創(chuàng)建、編輯和傳輸任意波形的所有操作，無需連接 PC 或向 PC 傳輸文件。 幅度和偏置數(shù)據(jù)存儲在波形中，因此，在加載標準化 ARB 后，無需調(diào)整設(shè)置。

優(yōu)異的指標

• 單或雙通道型號

• 接到 50Ω 負載時的輸出幅度范圍 1 mVp-p 至 10 Vp-p

• 基本 (AFG) 模式

• 25 MHz、50 MHz、100 MHz、150 MHz 或 250 MHz 正弦波形

• 250 MSa/s、500 MSa/s、1 GSa/s 或 2GSa/s 采樣率

• 14 位垂直分辨率

• 連續(xù)、調(diào)制、掃描與突發(fā)模式

• 各通道均具有 128 k 點的任意波形內(nèi)存

• 高級模式

• 連續(xù)模式和選配序列、觸發(fā)和選通模式

• 各通道均具有 16 M 點的任意波形內(nèi)存（可選 128 M 點）

• 在包含循環(huán)、調(diào)整和等待事件的序列模式下多達 256 步

• 變量采樣時鐘 1 μSa/s 至 2 GSa/s

• 最小波形長度 168 點，粒度為