企業(yè)名片
根據(jù)DIN ISO 3497和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行金屬和貴金屬分析，鍍層厚度測(cè)量和RoHS篩查的通用X射線熒光光譜儀
高端半導(dǎo)體檢測(cè)器（PIN和SDD） 確保出色的檢測(cè)精度和高分辨率
XAN 250和252：用于測(cè)量鋁，硅或硫之類的輕元素；
準(zhǔn)直器：固定或4種可切換，最小測(cè)量點(diǎn)約為0.3mm
基本濾片：固定或6種可切換
固定樣品支架或手動(dòng)XY載物臺(tái)
攝像頭可輕松定位最佳測(cè)量位置
樣品高度最多17厘米;
牙科合金的無(wú)損分析，銀測(cè)試
多層鍍層測(cè)試
電子和半導(dǎo)體行業(yè)中厚度為10nm以上的功能涂層的分析
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消費(fèi)者保護(hù)中的痕量分析，例如測(cè)試玩具中的鉛含量
根據(jù)珠寶業(yè)和煉油廠最高精度要求測(cè)量金屬合金含量
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第5年
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