第5年
梅特勒 XPR2/AC電子天平
梅特勒 XPR305D5Q自動天平
梅特勒 硅 1通道/墻裝 2850Si Silic
梅特勒 UV5Nano紫外可見分光光度計
梅特勒 XK2003KLC質量比較器
梅特勒 D6密度計
梅特勒 UV5紫外可見分光光度計
梅特勒 RX4折光率模塊
梅特勒 Refracto30GS便攜式折光率儀
梅特勒 Analyzer,2300Na鈉分析儀
每次均得有效結果.XPR微量分析天平、52 g量程、0.001 mg可讀性、7''電容彩色觸摸屏、用戶管理、靜電檢測、自動內部校正且兼容LabX
經濟劃算的樣品使用
較好的準確度和優異的最小稱量值讓您能夠稱量非常小的樣品，節省珍貴材料，降低成本。
StaticDetect
由于具備StaticDetect靜電檢測功能，XPR微量天平和分析天平可檢測樣品和容器的靜電放電。
一次即準的結果
內置的StatusLight?、LevelControl和GWP Approved協同作用，確保各項條件處于優異狀態，獲得正確的稱量結果。
規格 - 電子天平 XPR56/AC
| 最大秤量 | 52 g |
| 可讀性 | 0.001 mg |
| 重復性（典型值） | 0.0007 mg |
| 最小稱量值（USP, 0.1%，典型值) | 1.4 mg |
| 合法交易 | Yes |
| 線性誤差（典型值）± | 0.02 mg |
| 重復性測試載荷 | 0.0015 mg (2 g) |
| 穩定時間 | 3.5 s |
| 秤盤外形尺寸(深x寬) | 40 mm x 40 mm |
| 校正 | 內部/ FACT |
| 尺寸 | 485 mm |
| 尺寸 (高x寬) | 292 mm x 195 mm |
| 物料號 (s) | 30535474 |
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