第4年
梅特勒 XPR204/AC電子天平
梅特勒 XPR32000L/AC電子天平
梅特勒 M800 Process 4-CH工業(yè)多參
梅特勒 Easy D30密度計(jì)
梅特勒 AX1006質(zhì)量比較器
梅特勒 GPro 500氯化氫氣體分析儀
梅特勒 InPro3100/225 Pt1000pH傳感
梅特勒 XSR32001L/AC電子天平
梅特勒 P-58RUE實(shí)驗(yàn)室儀器數(shù)據(jù)記錄
梅特勒 TMA/SDTA 2+ LN/600熱機(jī)械分
RX4折光率模塊可與超越系列密度計(jì)結(jié)合使用，用于密度和折光率的同步測量。RX4可用于測量折光率，測量范圍為1.32到1.70，同時(shí)可實(shí)現(xiàn)自動溫度控制，控制范圍為0到100 °C。
無縫模塊化設(shè)計(jì)
通過One Click?一鍵式用戶界面，用戶只需一次單擊，即可開始完整的工作流程，包括進(jìn)樣、測量、沖洗、干燥和SOP等。
用戶管理
用戶管理系統(tǒng)允許定義不同的訪問權(quán)限，每個(gè)用戶均可設(shè)定自己的主屏幕和語言。
自動溫控
集成的帕爾貼溫度控制裝置能夠快速的加熱或冷卻測量池，因此能夠準(zhǔn)確地將樣品維持在所需的溫度。
規(guī)格 - 折光率模塊 RX4
| 測量范圍nD | 1.3200 - 1.7000 |
| 準(zhǔn)確度nD | 0.0001 |
| 重復(fù)性nD (±) | 0.00005 |
| 測量范圍 Brix | 0-100 % w/w |
| 準(zhǔn)確度 Brix (2) | 0.05 |
| 溫度范圍 | 5 °C – 100 °C |
| 溫度準(zhǔn)確度 (2) | 0.1 °C |
| 測量單位 (3) | 折光率、糖度（白利糖度等）、酸堿度、化學(xué)品、凝固點(diǎn)、鹽度等; 最高可達(dá)30項(xiàng)用戶定義濃度表（允許以表格或公式的形式輸入）。 |
| 尺寸(深x高x寬) | 226 x 193 x 208 mm |
| 重量 | 4.8 kg |
| 標(biāo)準(zhǔn)合規(guī)性 | www.mt.com/dere-norms |
| 尺寸 | 226 mm |
| 尺寸 (高x寬) | 193 mm x 208 mm |
| 重復(fù)性 Brix (% w/w) | 0.05 % w/w |
| 溫度控制 | 適用 |
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