產(chǎn)品綜述

6362A光譜分析儀采用雙通光柵分光單元、高分辨率衍射光柵定位、光學楔形延遲消偏振、小信號和寬波段光譜檢測等技術研制而成，適用于600～1700nm波段范圍的LED、LD、SLD、DFB-LD、EDFA、光纖、光纖光柵、光學濾波器、光纖放大器、波分復用器等光電子元器件及有關系統(tǒng)的測試。

功能特點

主要特點

● 0.05nm最小光譜分辨率

● 600～1700nm光譜掃描范圍 

● ndB損耗分析

● 包絡分析

● 測試數(shù)據(jù)存儲輸出

● 激光光源測試

● 光學濾波器測試

0.05nm最小分辨率

6362A光譜分析儀支持不同光譜分辨率的設置，多種光譜分辨率設置靈活切換。最小光譜分辨率優(yōu)于0.05nm。

光譜分辨率測試

峰值檢索

6362A光譜分析儀采用擁有自主知識產(chǎn)權的光譜自適應峰值檢索算法，峰值檢索準確度高，自適應性和魯棒性強，且運算速度快。

 單縱模激光光譜分析

6362A光譜分析儀具備多場景光譜分析功能，針對DFB-LD等單縱模激光光源，儀器提供閾值分析和邊模抑制比分析兩種分析方法，有效準確的評估單縱模待測光源的中心波長、光譜帶寬和邊模抑制比。

多縱模激光光譜分析

針對FP-LD等多縱模激光光源，6362A光譜分析儀提供ndB損耗分析、包絡分析和均方根分析三種分析方法，多維度全面評估多縱模待測光源的中心波長和光譜帶寬。

多種光電子器件應用分析功能

6362A光譜分析儀可以對LED、FP-LD、DFB-LD、LD模塊等各類型激光器進行一鍵測試與分析，實現(xiàn)所有測試項目批處理。

除半導體激光光源光譜測量應用外，儀器還集成了光纖偏振模色散測量應用、波分復用應用、光纖放大器應用、波分復用濾波器應用、波分復用光纖放大器應用等光譜應用功能，下圖是典型的波分復用應用分析。