第4年
奧林巴斯 GoldXpert便攜臺式 XRF分
奧林巴斯 VersaMOUSE相控陣探頭進行
奧林巴斯 X-STREAM分析儀
奧林巴斯 GLIDER X-Y手動雙軸掃查器
奧林巴斯 TERRA II便攜式XRD分析儀
奧林巴斯 NORTEC 600渦流探傷儀
奧林巴斯 MapROVER電動雙軸掃查器
奧林巴斯 BTX III臺式XRD分析儀
奧林巴斯 HST-X04衍射時差（TOFD）
奧林巴斯 MapSCANNER手動雙軸掃查器
實的測定功能
使用一臺即可進行反射率、膜厚、物體顏色、透過率、入射角45度反射率的各種分光測定。
測定反射率
測定以物鏡聚光的Φ17~70μm的微小點的反射率。
 反射率測定光路圖 | |
 反射率測定例：鏡片 |  反射率測定例：鏡片周邊部位 |
 膜厚測定的圖例 | 測定膜厚活用反射率數據，測定約50nm~約10μm的單層膜、多層膜的膜厚。 |
 物體色的測定圖例 | 測定物體顏色根據反射率數據顯示XY色度圖、L*a*b*色度圖及相關數值。 |
測定透過率 (選配)
從受臺下部透過?2mm的平行光，測定平面樣品的透過率。
 透過率測定光路圖 |
測定入射角為45度的反射率（選配）
從側面向45度面反射?2mm的平行光，測定其反射率。
 45度反射率測定光路圖 |
域的高精度&高速測定
 光學系圖 | 實現高速測定使用平面光柵及線傳感器進行全波長同時分光測定，從而實現高速測定。 |
 反射率測定圖例 | 十分適用于測定細小部件、鏡片的反射率新設計了可以在?17~70μm的測定區域中進行非接觸測定的專用物鏡。通常的分光光度計不能進行測定的細小電子部件或鏡片等的曲面，也可以實現再現性很高的測定。 |
 消除背面反射光的原理 | 測定反射率時，不需要背面防反射處理將專用物鏡與環形照明組合，不需要進行被檢測物背面的防反射處理，就可測定最薄0.2mm的反射率*。*使用40×物鏡時，在本公司的測定條件下進行測定。 |
可選擇的膜厚測定方法
根據測定的分光反射率數據進行單層膜或多層膜的膜厚解析。可以根據用途選擇最佳的測定方法。
 峰谷法膜厚解析經過信息圖例 | 峰谷法這是一種根據測定的分光反射率值的峰值與低谷的周期性計算出膜厚的方法，對于測定單層膜是有效的。不需要復雜的設置，可以簡單地求出。 |
 傅里葉轉換法膜厚解析經過信息圖例 | 傅里葉轉換法這是一種根據測定的分光反射率值的周期性計算膜厚的方法，對于單層膜及多層膜的測定有效。難以檢測出峰值及低谷等時，可以幾乎不受噪音的影響進行解析。 |
 曲線調整法膜厚解析經過信息圖例 | 曲線調整法這是一種通過推算測定的分光反射率值與根據某種膜構造計算的反射率的差達到最小的構造計算出膜厚的方法，對于單層膜及多層膜的測定有效。還可以進行不會出現峰值及低谷的薄膜解析。 |
多樣化應用
高速、高精度地應對多樣化測定需求。
 | 通過測定球面、非球面的鏡片、濾鏡、反射鏡等光學元件的反射率，進行涂層評價、物體顏色測定、膜厚測定。數碼相機鏡片 |
 | 適用于LED反射鏡、半導體基板等微小電子部件的反射率測定、膜厚測定。LED包裝 |
 | 適用于平面光學元件、彩色濾鏡、光學薄膜等的反射率測定、膜厚測定、透過率測定。液晶彩色濾鏡 |
 | 適用于棱鏡、反射鏡等45度入射產生的反射率測定。棱鏡 |
微信客服
