用于腐蝕檢測的雙晶線性陣列（DLA）探頭，與常規超聲雙晶探頭相比，具有更多優勢特性。這種相控陣解決方案可以提供更大的聲束覆蓋范圍、更快的掃查速度，以及具有更高數據點密度的C掃描成像功能，從而可提高檢測效率。與標準相控陣脈沖回波相比，這種新探頭所采用的一發一收技術在腐蝕測量應用中可提供更好的近表面分辨率和點蝕探測能力，提高了臨界性壁厚減薄情況的檢出率。

得益于其內置灌溉和可更好地貼附于管道弧面的可更換式延遲塊等新功能，雙晶線性陣列（DLA）腐蝕探頭現在可用于進行自動檢測。

探頭的優勢和特性

• 可探測表面以下1毫米的缺陷

• 性價比較高的可更換式延遲塊

• 內置灌溉

• 高溫選項，可掃查熱表面

• 聲束覆蓋寬度高達30毫米

• 用途廣泛且調整迅速的系統，適用于直徑從4英寸到平面材料的檢測

• 堅固耐用的硬質合金防磨板，可保護楔塊

• 碳鋼材料典型的檢測深度范圍為1毫米到80毫米

• USB存儲盤中的OmniScan配置文件（MX、MX2和SX）

OmniScan軟件特性

• 側視圖、端視圖和俯視圖成像（B掃描、D掃描和C掃描）

• 完整的高分辨率A掃描存儲

• 兩個可配置的探測閘門

• 在OmniScan探傷儀或使用OmniPC軟件的計算機中進行離線分析

新特性，新潛能

雙晶線性陣列（DLA）腐蝕探頭和OmniScan SX探傷儀的組合是一種經濟實惠的檢測選項。這種解決方案設置方便，操作簡單：加載所提供的設置文件，核查校準情況，然后檢測并記錄數據。無需使用脈沖發生/接收（PR）儀器。

無論是使用編碼器對某個區域進行手動掃查，還是使用MapROVER電動掃查器進行高速、全體積成像，雙晶線性陣列（DLA）腐蝕探頭都可以在光滑的表面上快速輕松地完成C掃描成像操作。創新型探頭穩定系統與可更換式弧面延遲塊和灌溉功能相結合，可在直徑小至4英寸的管材表面提供優質的聲束傳播效果。我們還提供可檢測溫度高達150°C表面的雙晶線性陣列（DLA）腐蝕探頭的高溫版本。

在自動檢測中與MapROVER掃查器一起使用的DLA腐蝕探頭。

雙晶陣列一發一收技術

與雙晶UT探頭一樣，雙晶線性陣列探頭包含一組發射晶片和一組接收晶片，這兩組晶片被分別安裝在以一定角度切割的延遲塊的兩部分上。這種配置生成在被測工件表面以下聚焦的聲束，從而可大幅降低表面反射的波幅。而且還提高了近表面分辨率，可獲得點蝕、蠕變損傷和HIC（氫致裂紋）等關鍵性缺陷的更高的檢出率。

一發一收	脈沖回波

與相控陣脈沖回波相比，一發一收技術僅生成非常小的界面回波，可提供更好的近表面分辨率。

碳鋼管道上腐蝕缺陷的B掃描圖像