在節(jié)能減排的時代背景下，從毫瓦級到兆瓦級的開關電源產(chǎn)品，都在往高頻、高效、高密度、智能化的方向發(fā)展，對于開關器件、磁性元件、電容、電感等器件的測試要求越來越高。ZDS5054A電源分析型示波器，針對電源白盒測試開發(fā)了電源分析、環(huán)路分析、電源通信協(xié)議解碼等功能，幫助工程師快速設計高效率、高可靠的電源。

電源分析：助力電源信號完整性分析

ZDS5054A電源分析功能涵蓋了輸入輸出特性測試，MOSFET、磁性元件、電容、電感等器件分析，調(diào)制波形測試等功能，全方位評測電源可靠性。

MOSFET開關損耗精準量化

功率MOSFET開關損耗測試是PFC電源調(diào)試中的難點，由于SPWM每個周期的開關損耗都不相同，傳統(tǒng)通過手光標和數(shù)學運算手動測試的方式已經(jīng)不適用。ZDS5054A示波器標配512Mpts存儲深度，可捕獲多個完整調(diào)制周期SPWM波形，自動統(tǒng)計各開關周期的開通/關斷/導通損耗，計算最大值、最小值、平均值，準確量化開關器件的功率損耗。

SOA測試：有效保障MOSFET工作安全

功率MOSFET瞬時電壓、電流、功率超出安全工作區(qū)，會導致器件損壞、爆炸的風險陡增，常規(guī)調(diào)試手段難以對器件的各種工況進行全面評估。SOA 安全工作區(qū)分析功能，可統(tǒng)計MOSFET在所有工況下瞬時參數(shù)超出安全工作區(qū)的概率，便于工程師更好的評估電源工作穩(wěn)定性。

環(huán)路分析：快速判斷電源環(huán)路穩(wěn)定性

穩(wěn)定的反饋環(huán)路對開關電源來說是非常重要的，如果沒有足夠的相位裕度和幅值裕度，電源的動態(tài)性能就會很差或者出現(xiàn)輸出振蕩。伯德圖可以直觀呈現(xiàn)負反饋系統(tǒng)的增益、相位的頻率響應曲線，通過分析系統(tǒng)的增益余量與相位余量，可以判斷控制系統(tǒng)是否穩(wěn)定。

內(nèi)置雙通道AFG信號發(fā)生器

內(nèi)置函數(shù)信號發(fā)生器，支持正弦波、三角波、方波、鋸齒波等標準函數(shù)信號輸出，頻率高達30MHz，可以自動掃描電源控制環(huán)路伯德圖，自動顯示相位裕度和增益裕度等參數(shù)，幫助工程師快速進行環(huán)路分析，加快調(diào)試效率。

行業(yè)應用