第5年
菲希爾 MMS PC2測量鍍層厚度和材料
菲希爾 SIGMASCOPE GOLD黃金檢測儀
菲希爾 FERITSCOPE FMP30測量儀
菲希爾 HM500納米壓痕測試儀
滿足復雜需求的X射線熒光分析
FISCHERSCOPE?X射線 XDAL?是 XDL系列中最好的X射線熒光測量儀器。 和它的“小兄弟”一樣，它是從上到下方向測量的，這使得測試形狀奇怪的樣品也變得輕松便捷，為了優化您的任務的測量條件，配有可互換的準直器和過濾器作為標準配置。
對測量任務的要求越高，探測器的類型就越重要！因此FISCHERSCOPE X射線 XDAL提供了3種不同的半導體探測器。
硅PIN二極管是一種中檔檢測器，非常適合在相對較大的測量區域內測量多個元素。配備PIN的XDAL通常用于檢查硬質材料涂層。
與硅PIN二極管相比，高質量的硅漂移檢測器（SDD）具備更好的能量分辨率。如此配備的XDAL光譜儀可用于解決電子行業中的復雜測量任務：例如，測量薄合金層，或非常相似的元素（如金和鉑）的材料分析。這款值得信賴的XRF儀器可用于ENIG和ENEPIG應用的質量控制
對于特別棘手的挑戰，Fischer還提供帶有超大探測器表面的SDD。該探測器的優勢在于它能夠可靠地測量納米級的鍍層，并進行痕量分析。使用這些XDAL設備，您可以測試用于高可靠性應用的焊料中的鉛含量，從而避免錫須。
特點
采用DIN ISO 3497和ASTM B 568標準，用于自動測量達到0.05μm的鍍層和用于ppm級含量的材料分析的通用X射線熒光光譜儀
3種不同的探測器可選（Si-PIN二極管；SDD 20 mm2；SDD 50 mm2）
3種可切換基本濾片
4種可切換準直器
最小測量點約為0.15mm
樣品最高高度可達14cm
可編程XY工作臺，定位精度為10μm
開槽箱體設計用于測量大的印刷電路板
經過認證的全面保護設備
應用
鍍層和合金（也包括薄涂層和低濃度）的材料分析
電子行業，ENIG，ENEPIG
連接器和觸點
黃金，珠寶和制表業
PCB制造薄金（幾納米）和鈀鍍層的測量
微量元素分析
高可靠性應用的鉛（Pb）的測定（避免錫晶須）
對硬質材料涂層的分析
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